Indisponible en français

Résumé

 Preview

ISO 29301:2017 specifies a calibration procedure applicable to images recorded over a wide magnification range in a transmission electron microscope (TEM). The reference materials used for calibration possess a periodic structure, such as a diffraction grating replica, a super-lattice structure of semiconductor or an analysing crystal for X-ray analysis, and a crystal lattice image of carbon, gold or silicon. This document is applicable to the magnification of the TEM image recorded on a photographic film, or an imaging plate, or detected by an image sensor built into a digital camera. This document also refers to the calibration of a scale bar. This document does not apply to the dedicated critical dimension measurement TEM (CD-TEM) and the scanning transmission electron microscope (STEM).


Informations générales 

  • État actuel
     :  Publiée
    Date de publication
     : 2017-12
  • Edition
     : 2
  • Comité technique
     : ISO/TC 202/SC 3 Microscopie analytique à électrons
  • ICS
     :
    37.020 Matériel optique

Objectifs de développement durable

Cette norme contribue à l'Objectif de développement durable suivant :

9
Industrie, innovation et infrastructure

Acheter cette norme

Format Langue
PDF + ePub
Papier
  • CHF166

Cycle de vie


Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Suivez l'actualité de l'ISO

Inscrivez-vous à notre Newsletter (en anglais) pour suivre nos actualités, points de vue et informations sur nos produits.

  2. Store
  3. Catalogue de normes
  4. ICS
  5. 37
  6. 37.020
  7. ISO 29301:2017